В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров.
Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам, обучающимся по направлениям 'Радиотехника', 'Инфокоммуникационные технологии и системы связи', 'Конструирование и технология электронных средств', 'Электроника и наноэлектроника', 'Электроэнергетика и электротехника' (уровень магистратура), аспирантам направлений 'Электроника, радиотехника и системы связи', 'Электро- и теплотехника'.
2-е издание, стереотипное.
