Категории

Главная > Книги>Справочная литература>Технические науки. Транспорт>Технические науки в целом>Мир Физики и техники. Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении.

Мир Физики и техники. Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении.

  • Автор: Под ред. Шварца А. и др.

  • Переплет: твердый
  • Страниц: 548
  • Формат: 24.5x17.5x.5 см
  • Вес: 1160 г
  • ISBN: 978-5-94836-385-1

04387651

Наличие: ОТПРАВКА В ТЕЧЕНИЕ 9-13 РАБОЧИХ ДНЕЙ

1 046 Kč

Книга содержит материалы, полезные как для общего понимания принципа ДОЭ-анализа, истории его создания и развития, так и практическую информацию по исследованию процессов в материалах при сильных пластических деформациях (равноканальное угловое прессование (РКУП), сварка трением с перемешиванием), а также для понимания трехмерного анализа границ раздела методом комбинации послойного травления материала с помощью фокусированного ионного пучка и исследования поверхности каждого слоя методом ДОЭ с последующей трехмерной реконструкцией набора двумерных данных ДОЭ. Перевод на русский язык второго оригинального издания книги МЕТОД ДИФРАКЦИИ ОТРАЖЕННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ В МАТЕРИАЛОВЕДЕНИИ является одной из первых исчерпывающих коллективных монографий в этой области. Книга станет полезным настольным справочником для многих начинающих и практикующих специалистов в области электронной микроскопии, рентгеновского микроанализа и микротекстурного анализа материалов.